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[ 分析量測軟體 | 2.5D影像量測軟體 | AIM ]

AIM-Auto inspecting Magic Tool

■ AIM高科技專業系列產品

AIM-AIS晶圓針痕檢測
•本系統為專業晶圓缺陷量測與分析系統,為台積電、日月光、福雷電、台曜...專業晶圓廠選用,可做針痕面積量測分析、晶圓缺陷影像分析、高度缺陷數目計算、針痕缺陷面積比計算及相對距離計算等,並可快速製作缺陷統計報表。

AIM-TFT LCD/LCM廠面板檢測
•針對液晶(等離子)周邊產業,本系統含括所有尺寸精準量測、污點面積數目計算,快速缺點統計及柏拉圖輸出。
AIM-PCB印刷電路板
•載入NC鑽孔檔自動產生巨集,即可立刻自動量測,並且能與鑽孔檔標準比對,不合格之項目會自動變成紅色警示,產品品質一目了然。鑽孔檔量測結果可透過MiDFUN SPC功能產生鑽孔位置散佈圖,並統計各偏移區間之個數,以提供NC鑽孔機做為參數調整之依據。
   
 
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update: 2019-02-22