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[ AOI自動光學檢測系統 | SD卡標籤位置檢測 ]

■ SD卡標籤位置檢測

■ 檢測樣品

檢測SD卡標籤黏貼位置與SD卡周圍間距。
  • 完成標籤間距檢測,每張SD卡都能同時4邊進行檢測。
  • 每片檢測時間平均在0.075秒。
  • 檢測數據精度大於0.5mm,超過4個以上就判定此SD卡,為不良品。

■ 視野

X軸向:41mm 視野在41mm,以公式換算的到圖像解析度0.025mm/ Pixel
Y軸向:31mm 視野在31mm,以公式換算的到圖像解析度0.025 mm/ Pixel

■ 檢測結果

針對邊框檢測,計算出四邊間距數據。(單位:mm)
SD卡標籤位置檢測
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太陽能板Grain Size量測
   
 
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update: 2017-09-19