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[ AOI自動光學檢測系統 | 玻璃基板邊損檢測 ]

■ 玻璃基板邊損檢測 Edge Chip Inspection System

本系統以電腦視覺方式檢測LCD Bare Glass 的Edge缺陷, 這些板邊的缺
陷包含:Crack、Chipping、Corner Mark & Grinding等。基於高速與高缺
陷精度的需求, 系統使用2支Area CCD(搭配透射式照明)進行整個玻璃基
板Edge的掃描與檢測。
玻璃基板邊損檢測系統

■ 光學精度分析

光學精度分析
項目
邊損(高精度)
備註
 檢測精度
75μm
 設備精度
15μm
 CCD點數/Framerate
768(W)*1024(H)點/30fps
Progressive Scan
 CCD視野(W*H)
11.5mm*15.36mm
(W,H)*設備精度
 CCD數量
2
基板兩長邊
 Lens
50mm + 10mm延伸環
 Conveyor速度
max:18m/min
 檢測模式
動態
 掃描時間
8.3sec(18m/min)
G8(2200mm*2500mm)
 計算時間
1.5sec
 Tact Time
9.8sec

■ 檢測畫面

〔正面〕
〔反面〕
玻璃基板邊損檢測系統
玻璃基板邊損檢測系統

 

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update: 2014-07-08