[ AOI自動光學檢測系統 | 玻璃基板邊損檢測 ]

■ 玻璃基板邊損檢測 Edge Chip Inspection System

本系統以電腦視覺方式檢測LCD Bare Glass 的Edge缺陷, 這些板邊的缺
陷包含:Crack、Chipping、Corner Mark & Grinding等。基於高速與高缺
陷精度的需求, 系統使用2支Area CCD(搭配透射式照明)進行整個玻璃基
板Edge的掃描與檢測。

玻璃基板邊損檢測系統

■ 光學精度分析

光學精度分析
項目	邊損(高精度)	備註
檢測精度	75μm
設備精度	15μm
CCD點數/Framerate	768(W)*1024(H)點/30fps	Progressive Scan
CCD視野(W*H)	11.5mm*15.36mm	(W,H)*設備精度
CCD數量	2	基板兩長邊
Lens	50mm + 10mm延伸環
Conveyor速度	max:18m/min
檢測模式	動態
掃描時間	8.3sec(18m/min)	G8(2200mm*2500mm)
計算時間	1.5sec
Tact Time	9.8sec

■ 檢測畫面

〔正面〕	〔反面〕

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update： 2020-03-27